Adhesive multi-layer guide plate unit, probe head, probe base, probe card and detection system including the adhesive multi-layer guide plate unit

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	WU, HSUEHIH, LIN, CHE-WEI, LIN, SHENG-YU, HSIEH, SHANG-JUNG
Format:	Patent
Sprache:	chi ; eng
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING
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