TWI649534B

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	HUNG, CHIA-I, CHAN-TIEN, CHEN, CHEN, YU-PAO, CHEN, CHING-HUNG, CHANG, SHU-HUAI
Format:	Patent
Sprache:	chi
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ANGLES MEASURING AREAS MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS PHYSICS TESTING
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