Ripple bit-lines/search-lines for improving leakage/variation tolerance and density/performance of static random access memory

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	CHANG, CHI SHIN, TU, MING HSIEN, HUANG, PO TSANG, CHUANG, CHING-TE, YANG, HAO I, LU, CHIEN YU, LAI, SHU LIN, JOU, SHYH JYE, CHEN, CHIEN HEN, HWANG, WEI
Format:	Patent
Sprache:	chi ; eng
Schlagworte:	INFORMATION STORAGE PHYSICS STATIC STORES
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