System and method for recognizing defects on solar cell

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	OU, NAITIEN, YANG, SHIHYI, LIAO, HSIAO TAI, CHEN, TIENSZU
Format:	Patent
Sprache:	chi ; eng
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING
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