三維顯微鏡

【物品用途】;本物品為可對樣本進行觀察、測量、分析等的三維顯微鏡。例如，可將無法目視的透明薄膜表面的損傷或缺陷的剖面形狀進行三維的可視化、數值化。;【設計說明】;1.圖式所揭露之虛線部分，為本案不主張設計之部分。;2.各圖式中所示的細線，為用於特定出立體表面形狀的稜線。;3.在表示主張設計之部分的參考立體圖中，以灰色所示的部分為本案主張設計之部分。...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	SHIMODA, KENSAKU, SANO, HIROYUKI, NAKAJIMA, KEN, GOTO, SHUHEI, OKAMOTO, SOTA
Format:	Patent
Sprache:	chi
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Beschreibung
Zusammenfassung:	【物品用途】;本物品為可對樣本進行觀察、測量、分析等的三維顯微鏡。例如，可將無法目視的透明薄膜表面的損傷或缺陷的剖面形狀進行三維的可視化、數值化。;【設計說明】;1.圖式所揭露之虛線部分，為本案不主張設計之部分。;2.各圖式中所示的細線，為用於特定出立體表面形狀的稜線。;3.在表示主張設計之部分的參考立體圖中，以灰色所示的部分為本案主張設計之部分。