Semiconductor apparatus and manufacturing method thereof
A semiconductor apparatus has the features of: (1) Si substrate; (2) forming strain absorbing layer constituted by GaAs on the Si substrate;(3) forming buffer layer constituted by compound consisting of AlxGa1-x- yInyN(0
Gespeichert in:
Hauptverfasser: | , , |
---|---|
Format: | Patent |
Sprache: | chi ; eng |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext bestellen |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Schreiben Sie den ersten Kommentar!