METHOD OF CHECKING STRENGTH OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT INTERNAL LEADS

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	LIFANOV DMITRIJ V,SU, CHERNUKHA BORIS N,SU, KHLOPOV YURIJ N,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	MEASURING PHYSICS TESTING TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES ORSTRUCTURES TESTING STRUCTURES OR APPARATUS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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