DEVICE FOR MEASURING HALL-EFFECT EMF

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	VEDENEEV A.S.,SU, MARKIN YU.V.,SU, TESTOV V.G.,SU, NIKITIN N.E.,SU, ALEKSANDROV A.L.,SU, ZHDAN A.G.,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	BASIC ELECTRIC ELEMENTS ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ELECTRICITY INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS SEMICONDUCTOR DEVICES TESTING
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