SEMICONDUCTOR MATERIAL ELECTROPHYSICAL PARAMETER PICKUP

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	TURKIN IGOR N,SU, PETROV ALEKSEJ S,SU, URAEVSKIJ MIKHAIL G,SU, AKHMANAEV VIKTOR B,SU, MEDVEDEV YURIJ V,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING
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