APPARATUS FOR MECHANICAL TESTING AND REJECTING SEMICONDUCTOR DEVICES

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: MIGIRENKO GEORGIJ S,SU, BRIKMAN ALEKSANDR I,SU, PESOTSKIJ SERGEJ V,SU, EVGRAFOV VLADIMIR N,SU
Format: Patent
Sprache:eng
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Zusammenfassung: