METHOD OF MEASURING CRACK LENGTH IN ELECTROCONDUCTIVE OBJECTS

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	ALABICHEV ALEKSANDR I,SU, GOLOVIN YURIJ I,SU, SLETKOV ALEKSEJ A,SU, TYALIN YURIJ I,SU, KIPERMAN VIKTOR A,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
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