METHOD OF CHECKING TRANSISTOR THERMAL RESISTANCE

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	PIORUNSKIJ ALEKSANDR N,SU, GORIN VYACHESLAV N,SU, DERGACHEV VLADIMIR S,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING
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