METHOD AND DEVICE FOR ANALYZED ELEMENT SPECIMEN ANALYTICAL LINE SEPARATION FROM HE BACKGROUND OF INTERFERING LINES

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	KRAMPIT IGOR A,SU, ZHABIN EVGENIJ G,SU, ISAEV DMITRIJ V,SU, SMIRNOV VASILIJ N,SU, KOZLOV GENNADIJ G,SU, BETIN YURIJ P,SU, KOMOV ANATOLIJ P,SU, KORNYSHEV ANATOLIJ P,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
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