DEVICE FOR TESTING HYBRIDE INTEGRAL MICROCIRCUITS DURING PRODUCTION SAME

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	LOPUKHIN VLADIMIR A,SU, CHUDAKOVSKIJ MIKHAIL P,SU, FARBEROV MIKHAIL B,SU, SHELEST DMITRIJ K,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	BASIC ELECTRIC ELEMENTS ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ELECTRICITY SEMICONDUCTOR DEVICES
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