APPARATUS FOR MEASURING RESISTANCE RATIO

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	SHIRINYAN ANDRANIK K,SU, AKOPYAN GRIGORIJ R,SU, LAZYAN SPARTAK M,SU, AMBARTSUMYAN GABRIEL G,SU, BEGINYAN EDUARD S,SU, NERSESYAN BENIAMIN L,SU, AKOPYAN RAFIK G,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING
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