DEVICE FOR MEASURING PARAMETERS OF THE RATIO OF RESISTANCES OF MULTICOMPONENT RESISTOR OPTRON

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	PERCHUKOV VALERIJ ,SU, EPSHTEJN LEV E,SU, LYUTIK OREST A,SU, GOROKHOV VALENTIN P,SU, FEDIN YURIJ N,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING
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