METHOD OF DETERMINING THE TEMPERATURE OF LOCAL OVERHEATING ZONE OF TRANSISTOR STRUCTURE

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	MININ VIKTOR F,SU, PERELMAN BENIAMIN L,SU, KERNER BORIS S,SU, DOROSHENKO LYUBOV G,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING
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