METHOD OF OBTAINING X-RAY DIFFRACTION TOPOGRAMS

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	MOTORA NINA S,SU, GUNDYREV VYACHESLAV M,SU, GAVRILOVAI LYUDMILA L,SU, SMIRNOVA ZINAIDA F,SU, SOLOVEVA ELENA V,SU, ESIN VLADIMIR O,SU, VEDERNIKOV YURIJ N,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
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