METHOD OF NON-DESTRUCTIVE QUALITY CONTROL OF DIELECTRIC FILM INSULATION

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	GUDIN LEV K,SU, YAROVOJ ANDREJ A,SU, KISELEV ANATOLIJ M,SU, TRETYAKOV VASILIJ V,SU, YAKOVLEV OLEG ,SU, GLUSHCHENKO VALENTINA G,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
Online-Zugang:	Volltext bestellen
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!