CHAMBER FOR X-RAY STRUCTURE ANALYSIS OF CRYSTALS

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	YUSHIN VALENTIN D,SU, SKRYABIN VALENTIN G,SU, KOLEROV OLEG K,SU, LOGVINOV ANATOLIJ N,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
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