METHOD OF SECONDARY-ION MASS-SPECTROMETRY OF SOLID

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	KURBANOV R.T.,SU, DZHEMILEV N.KH.,SU, ARIFOV U.A.,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng ; rus
Schlagworte:	BASIC ELECTRIC ELEMENTS ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS ELECTRICITY INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
Online-Zugang:	Volltext bestellen
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!