X-RAY DIFFRACTOMETER

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	GOGANOV DMITRIJ A,SU, KOMYAK NIKOLAJ ,SU, MENBAEV ZAURBEK K,SU, KHEJKER DANIEL M,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
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