DEVICE FOR TESTING ISOTHERMAL CURRENT-VOLTAGE CHARACTERISTICS OF SEMICONDUCTOR DEVICES

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	REBONI VALDEMAR O,SU, MELKOV KLAVDIJ V,SU, ISAEV EDUARD P,SU, LEBEDEV ALEKSANDR K,SU, BELOV NIKOLAJ A,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING
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