X-RAY MICROANALYZER

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	BARSKIJ SAMUIL M,SU, KONONOV YURIJ ,SU, BOROVSKIJ IGOR B,SU, LUKYANCHENKO EVGENIJ M,SU, ZHIZHIN IGOR P,SU, KHILKEVICH VITALIJ A,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
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