OBJECT DEFORMATION MEASURING METHOD

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	IVLIEV LEV M,SU, PANSHIN IGOR A,SU, DMITRENKO VIKTOR ,SU, STANKEVICH TATYANA F,SU, GLADYR VLADIMIR ,SU, LAPTEV ANDREJ F,SU, PODPALYJ EVGENIJ A,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ANGLES MEASURING AREAS MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS PHYSICS TESTING
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