METHOD OF METERING CURRENT-CONDUCTING AND SEMI-CONDUCTING LOOSE MATERIALS

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	KAZARYAN SAMVEL A,SU, TSATURYAN ARTASHES ,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	MEASURING MEASURING VOLUME, VOLUME FLOW, MASS FLOW OR LIQUIDLEVEL METERING BY VOLUME PHYSICS TESTING
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