ARRANGEMENT FOR CONDUCTING MATRIX TESTING BY STATISTICAL TECHNIQUE

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	SHULGIN EVGENIJ A,SU, MERKUREV VLADIMIR V,SU, MONAKHOV YURIJ E,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	CALCULATING COMPUTING COUNTING ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING
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