METHOD OF MEASURING THIN FILM ELECTRIC CONDUCTIVITY

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	GRISHIN ALEKSANDR M,SU, NIKOLAENKO YURIJ M,SU, USOV NIKOLAJ N,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng ; rus
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING
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