DEVICE FOR MEASURING TEMPERATURE-FREQUENCY CHARACTERISTICS OF ELECTRO-OPTIC DEVICES

FIELD: optics. SUBSTANCE: device has test object and two radiation sources. Collimator is introduced into the device newly. Test object is made in form of single unit of dielectric material, onto surface of which double-faced profiles are applied with different spatial frequencies. Test object may t...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Fedjunina S.A, Aleshko E.I, Chugunov A.V, Novoselov V.A
Format: Patent
Sprache:eng ; rus
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Zusammenfassung:FIELD: optics. SUBSTANCE: device has test object and two radiation sources. Collimator is introduced into the device newly. Test object is made in form of single unit of dielectric material, onto surface of which double-faced profiles are applied with different spatial frequencies. Test object may translate for certifying non-scanning devices. EFFECT: improved quality of metrological provision. 2 cl, 1 dwg Изобретение относится к технической оптике и может быть использовано для испытаний инфракрасных оптических приборов. Цель изобретения повышение качества метрологического обеспечения. Указанная цель достигается тем, что в устройство, которое содержит миру и два источника излучения, введен коллиматор. Мира изготавливается в виде единого блока из диэлектрического материала, на поверхность которого наносят двухгранные профили с разными пространственными частотами. Для аттестации несканирующих приборов предусмотрена возможность линейного перемещения миры. 1 з.п. ф-лы, 1 ил.