DEVICE FOR MEASURING TEMPERATURE-FREQUENCY CHARACTERISTICS OF ELECTRO-OPTIC DEVICES
FIELD: optics. SUBSTANCE: device has test object and two radiation sources. Collimator is introduced into the device newly. Test object is made in form of single unit of dielectric material, onto surface of which double-faced profiles are applied with different spatial frequencies. Test object may t...
Gespeichert in:
Hauptverfasser: | , , , |
---|---|
Format: | Patent |
Sprache: | eng ; rus |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext bestellen |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Zusammenfassung: | FIELD: optics. SUBSTANCE: device has test object and two radiation sources. Collimator is introduced into the device newly. Test object is made in form of single unit of dielectric material, onto surface of which double-faced profiles are applied with different spatial frequencies. Test object may translate for certifying non-scanning devices. EFFECT: improved quality of metrological provision. 2 cl, 1 dwg
Изобретение относится к технической оптике и может быть использовано для испытаний инфракрасных оптических приборов. Цель изобретения повышение качества метрологического обеспечения. Указанная цель достигается тем, что в устройство, которое содержит миру и два источника излучения, введен коллиматор. Мира изготавливается в виде единого блока из диэлектрического материала, на поверхность которого наносят двухгранные профили с разными пространственными частотами. Для аттестации несканирующих приборов предусмотрена возможность линейного перемещения миры. 1 з.п. ф-лы, 1 ил. |
---|