DEVICE FOR MEASURING CAPACITANCE OF SEMICONDUCTOR STRUCTURES

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	SYSOEV BORIS I,SU, TITOV SERGEJ A,SU, SHLYK YURIJ K,SU, LINNIK VYACHESLAV D,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng ; rus
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING
Online-Zugang:	Volltext bestellen
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!