METHOD FOR MEASURING SPECTRAL DISTRIBUTION OF COEFFICIENTS OF MIRROR REFLECTION IN VHF AND SHF RANGES

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	KARIN MIKHAIL G,SU, SHESTAKOV IGOR B,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng ; rus
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
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