METHOD OF EDDY CURRENT TESTING OF THIN SURFACE LAYERS

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	UCHANIN VALENTIN N,SU, KALININ NIKOLAJ P,SU, GRABSKIJ YURIJ S,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng ; rus
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
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