DEVICE FOR DETERMINING MIS-STRUCTURE PARAMETERS

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	TITOV BORIS G,SU, KHARENZHEV VLADIMIR N,SU, STADCHENKO VIKTOR G,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng ; rus
Schlagworte:	BASIC ELECTRIC ELEMENTS ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ELECTRICITY MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS SEMICONDUCTOR DEVICES TESTING
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