DEVICE FOR NON-CONTACT MEASURING OF PROFILE OF PARTS

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	BIRMAN VYACHESLAV B,SU, SEDELNIKOV VYACHESLAV A,SU, GROSSMAN MIRON I,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng ; rus
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ANGLES MEASURING AREAS MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS OPTICS PHYSICS TESTING
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