X-RAY DIFFRACTOMETER

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	YUSHIN VALENTIN D,SU, KOLEROV OLEG K,SU, SKRYABIN VALENTIN G,SU, MISHIN MIKHAIL I,SU, KALYSHENKO MIKHAIL F,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng ; rus
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
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