METHOD OF INVESTIGATING MICROSTRUCTURE OF SAMPLE

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	VASILENKO YURIJ V,SU, SAFRONOVA LYUDMILA A,SU, PLOTNIKOV VLADIMIR S,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng ; rus
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ANGLES MEASURING AREAS MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS PHYSICS TESTING
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