ANALYZER OF DEFECTS FOR FLAW DETECTOR

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	GREBENSHCHIKOV VLADIMIR V,SU, SHLYAKHTER VADIM I,SU, VOLKOV VLADIMIR V,SU, SHILO SERGEJ V,SU, MIRONENKO VASILIJ I,SU, ORESHKIN ALEKSANDR N,SU, KLENCHINA NATALYA G,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng ; rus
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
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