DEVICE FOR MEASURING SPECIFIC RESISTANCE OF SEMICONDUCTOR MATERIALS

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	BOGOBOYASHCHIJ VIKTOR V,SU, ROGULIN VLADIMIR YU,SU, RASKEVICH ALEKSANDR M,SU, DROZDOV SERGEJ A,SU, PETRYAKOV VLADIMIR A,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng ; rus
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
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