APPARATUS FOR MEASURING CONCENTRATION OF ELECTRONS IN ELECTRONIC AND PLASMA FLOWS

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	ARKADAKSKIJ SERGEJ S,SU, LERNER NATALIYA B,SU, TSIKIN BORIS G,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng ; rus
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
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