METHOD OF ROENTGENOSTRUCTURAL ANALYSIS OF THIN FILMS

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	ALAVERDOVA OLGA G,SU, MIKHAJLOV IGOR F,SU, KOVAL LARISA P,SU, DUDKIN VLADIMIR A,SU, BABENKO IGOR N,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng ; rus
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
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