INTERFEROMETER FOR CHECKING ASPHERIC SURFACES OF THE SECOND ORDER

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	NAZMEEV MUNIR M,SU, FEOKTISTOV VLADIMIR A,SU, KHUSNUTDINOV AMIRKHAN G,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng ; rus
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ANGLES MEASURING AREAS MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS PHYSICS TESTING
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