METHOD OF CONDUCTOMETRIC ANALYSIS OF PSEUDOLIQUEFIED LAYER OF FINE ELECTROCONDUCTIVE MATERIAL

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	KAPUSTIN EVGENIJ A,SU, LYYUROV IGOR I,SU, KHADZHINOV ALEKSANDR S,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng ; rus
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
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