APPARATUS FOR MONITORING COATING THICKNESS IN METAL ELECTROPLATING OPERATION

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	KRUGLOV VLADIMIR V,SU, KOVALEV ALEKSANDR M,SU, GLADSHTEJN MIKHAIL B,SU, KOVALKOV NIKOLAJ V,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng ; rus
Schlagworte:	APPARATUS THEREFOR CHEMISTRY ELECTROFORMING ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES METALLURGY PROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTIONOF COATINGS
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