METHOD OF PREPARING SPECIMENS FOR TRANSMITTED-LIGHT ELECTRONIC MICROSCOPY

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	FRENCHKO VLADIMIR S,SU, MEDYUKH MIKHAIL M,SU, IGNATIV MIROSLAV I,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng ; rus
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
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