APPARATUS FOR MEASURING PARAMETERS OF X-RAYS

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	KHARON YU.YA.,SU, MILSHTEJN R.S.,SU, GLEZIN F.I.,SU, LYAPIDEVSKIJ V.K.,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng ; rus
Schlagworte:	MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION MEASURING PHYSICS TESTING
Online-Zugang:	Volltext bestellen
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!