METHOD OF DETERMINING THE CAPACITANCE OF THE SPATIAL CHARGE REGION IN A SEMICONDUCTOR, AND DIELECTRIC OF SEMICONDUCTOR STRUCTURES

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	ERMAKOVA O.N.,SU, POLYAKOV V.I.,SU, PEROV P.I.,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng ; rus
Schlagworte:	BASIC ELECTRIC ELEMENTS ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ELECTRICITY SEMICONDUCTOR DEVICES
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