DEVICE FOR MEASURING REFLECTION FACTOR OF MICROWAVE ELEMENTS

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	ILNITSKIJ LYUDVIG YA,SU, REVUK ALEKSEJ G,SU, DANILENKO SERGEJ V,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng ; rus
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING
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