DEVICE FOR MEASURING MODULUS AND PHASE OF COMPLEX REFLECTANCE OF MICROWAVE TWO-TERMINAL NETWORK

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	BONDARENKO IVAN K,SU, AFONIN IGOR L,SU, TSARIK YURIJ I,SU, BAKLYKOV ALEKSANDR P,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng ; rus
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING
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