DEVICE FOR MEASURING JUNCTION TEMPERATURE OF TRANSISTOR

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	LIKHNITSKIJ ANATOLIJ M,SU, SUKHORUCHKIN ALEKSANDR V,SU, DYAKOVA GALINA N,SU, DEMENTEV VALERIJ V,SU
Format:	Patent
Sprache:	eng ; rus
Schlagworte:	MEASURING MEASURING QUANTITY OF HEAT MEASURING TEMPERATURE PHYSICS TESTING THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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