METHOD OF MEASURING SYSTEMATIC ERROR OF ANALOG-TO-DIGITAL CONVERTER

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: SMIRNOV MIKHAIL K,SU, SKORLYAKOV ALEKSANDR A,SU, KUTYRKIN SERGEJ B,SU, POLKOVOV VYACHESLAV L,SU, PETROV VLADIMIR K,SU
Format: Patent
Sprache:eng ; rus
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